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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (Hardcover, 1993)
Jose Pineda de Gyvez, Jose Pineda De Gyvez
Kluwer Academic Pub | 1992년 12월 | 1992년 12월
154,750원 (18% 할인 / 7,740원)
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Integrated Circuit Manufacturability: The Art of Process and Design Integration (Hardcover) - The Art of Process and Design Integration
Jose Pineda De Gyvez , Jose Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan (엮은이)
IEEE | 1998년 10월 | 1998년 10월
395,490원 (18% 할인 / 19,780원)
택배로 주문하면 2월 17일 출고 변경

Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Paperback)
Jose Pineda de Gyvez, Amir Zjajo
Springer | 2016년 08월 | 2016년 08월
77,360원 (18% 할인 / 3,870원)
택배로 주문하면 2월 24일 출고 변경

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (Paperback, Softcover Repri)
Jose Pineda de Gyvez
Springer Verlag | 2014년 02월 | 2014년 02월
154,750원 (18% 할인 / 7,740원)
택배로 주문하면 2월 24일 출고 변경

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Hardcover, 2)
Manoj Sachdev, Jose Pineda de Gyvez
Springer Verlag | 2007년 06월 | 2007년 06월
309,530원 (18% 할인 / 15,480원)
택배로 주문하면 2월 24일 출고 변경

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