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다카하시 주이치(高橋壽一)정보공학 박사. 플로리다 공과대학교 대학원에서 켐 케이너(Cem Kaner) 박사와 제임스 휘태커(James Whittaker) 박사를 사사했고, 히로시마 시립 대학에서 소프트웨어 품질 연구로 박사 학위를 취득했다. 마이크로소프트 본사 및 일본 SAP에서 소프트웨어 테스트 업무에 종사했으며, 소니 소프트웨어 품질 담당 부장을 거쳐, 현재 AGEST 집행임원 CTSO 및 디지털하트홀딩스 CTSO를 역임하고 있다. 저서로 《지식 제로부터 배우는 소프트웨어 테스트》, 《현장 업무가 척척 진행되는 소프트웨어 테스트 기법》 등이 있다. 대표작
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